Micro-Epsilon – ytinspektion av reflekterande ytor

 reflectCONTROL

Det helt integrerade reflectCONTROL-kontrollsystemet för reflekterande ytor är tillgängligt i två versioner för ytinspektion, som erbjuder olika mätområden. 2D-versionen upptäcker defekter på ytor. 3D-version kan dessutom användas för mätning av reflekterande ytor på en submikrometernivå.

Den här enheten används också i enskilda applikationer (t.ex. laboratorier) samt direkt i produktionslinjer. Den förinstallerade programvaran för drift och utvärdering av 2D-versionen visar ytdefekter. 3D-versionen ger ett punktmoln och den erhållna datan kan behandlas i bildbehandlingsprogram.

Alla nödvändiga komponenter är integrerade i en enhet. Användning sker genom pekskärm. Benen är justerbara på höjden. För att undvika störningar från omgivande ljus, kan mätfältet mörkas från alla fyra sidor.

reflectCONTROL Compact kan integreras i produktionslinjer via Ethernet-gränssnittet. Ett digitalt I/O-gränssnitt möjliggör triggning. Mus och tangentbord kan anslutas via två USB-portar. Om enheten är installerad i en svåråtkomlig plats kan en extern skärm för drift anslutas via VGA-gränssnitt.

Micro-Epsilon – interaktiv analysprogramvara för inspektion av matta ytor i 3D

surfaceCONTROL DefMap 6.0

För snabb inspektion av stora komponenter kan surfaceCONTROL DefMap 6.0 kombinera flera olika sensorpositioner till ett projekt. För första gången är det möjligt att definiera flera mätområden, justerat till komponentens geometri, inom varje sensorposition.

I de respektive mätområdena analyseras ytdata i specifika verktygsområden (multi AOI). Interaktiv analysprogramvara används för att känna igen olika typer av defekter. Den fullständigt reviderade ”overall view” ger en snabb översikt över analysprocessen.

Den avsevärt utökade 3D-visningen erbjuder ett utbud av nya alternativ för realistisk representation av ytan under definierade ljusförhållanden. Vidare kan den ”digitala ljustunneln” nu också användas i ”overall view”, med simulering av flera parallella ränder (zebra striping) för att kombinera olika sensorpositioner.

Med den nya ”force”-parametern i ”digital stone”-analysverktyget, kan trycket av en fysisk ”whetstone” realistiskt simuleras.

Exempel på applikationer:

Analys av enstaka delar, utvärdera synligheten för lokala avvikelser på instrumentpaneler, mätning av små serier för optimering av formsprutade detaljer och robotbaserade inspektioner av flera mätfält på bildelar.

Micro-Epsilon – konfokala sensorer för vakuumapplikationer

confocalDT

Den konfokala kromatiska mätprincipen är beröringsfri, underhållsfri, samt ger långsiktig stabilitet och är idealisk för applikationer som kräver hög precision. Konfokala sensorer är därför lämpliga för användning vid produktion av displayer och glas, inom medicinsk teknik och för forskning och utveckling.

confocalDT-serien från Micro-Epsilon inbegriper den snabbaste kontrollern i världen, vilket ger oöverträffad precision i mätresultat vid mätningar av avstånd och tjockleksmätning av genomskinliga objekt. Ett brett utbud av sensorer och olika alternativ för gränssnitt för kontrollern, erbjuder ett brett spektrum av applikationsmöjligheter.

IFS2406-sensorerna är speciellt utformade för vakuumapplikationer. Dessa modeller utmärker sig för sin kompakta storlek och precision. Tack vare dess axiella- och radiella mätningsriktningar, är sensorerna extremt mångsidiga i dess användning.